大型仪器分析是指通过高科技先进的各种分析设备运用光谱、质谱、色谱等原理来对高分析材料、金属材料等的组分、结构、原子构成进行剖析，以达到了解材料的目的。还可以多种仪器联用，可以更准确的对材料进行分析确定。
| 主要设备 | 型号 | 主要技术指标 | 用途 |
| 气相色谱质谱仪 （GC-MS） | 安捷伦 型号：5973 | DSQ 质谱仪，质量数范围1-1050 分辨率 全质量范围内为单位质量分辨率 扫描速度 10000u/sec 灵敏度 Scan 1pg 八氟萘 柱箱操作温度 400℃，直线升温速率0.1-120℃/min 直接进样杆最高温度 450℃ 质谱配有全新NIST标准谱库。 | 复杂液体或有气味固体类组分的分离与鉴定，VOCTVOC含量测定 |
| 高效液相色谱（HPLC） | 安捷伦 型号Agilent1100 | 四元泵： 流量精度≤0.07% RSD≤0.02min, 标准自动进样器 样品瓶容量：可达100个(2mlx100) 进样量：0.1-100ul 波长范围 190-600nm | 分离、分析、纯化有机化合物 |
| 凝胶渗透色谱仪 （GPC） | Waters 型号：1515 | 分子量范围：103－107（与GPC联机试验） 均方根旋转半径：10－500nm(典型范围) | 测定高聚物（分子量800以上）分子量及分布，均方根旋转半径分布，构象及枝化 （流动相主要是四氢呋喃、氯仿、二甲亚枫、水，因此要求聚合物在这几种溶剂中有很好的溶解性） |
| 热重分析仪（TGA） | 美国TA 型号：Q 50 | 热天平灵敏度：0.1μg 温度范围：室温～1000°C 升降温速率：0.1°C～200 °C/min 温度精度：± 2°C | 热稳定性能评定；挥发物的分析；氧化诱导期的测定；固化过程分析等 |
| 差示扫描量热仪（DSC） | 美国TA 型号：Q 200 | 温度范围：－170°C ～725°C 升降温速率：0.01~500°C/min可调 控温精度：优于0.1°C 量热精度：优于0.1% | 测定热转变温度（玻璃化转变温度、熔融温度等）；测定比热容 |
| 动态热机械分析仪（DMA） | 美国TA公司 型号：Q800 | 最大动态力：18N 最小动态力：0.0001N 力解析度：0.00001N 应变解析度： 1 纳米 模量范围：10E3 ~ 3＊10E12 Pa 频率范围：0.01 ~ 200 Hz 最大形变范围： /- 0.5 ~ 10,000 （微米） 温度范围： -150 ~ 600 ℃ 等温精度：0.1 ℃ | 玻璃化转变和熔化测试，二级转变的测试，频率效应，转变过程的最佳化，弹性体非线性特性的表征，疲劳试验，材料老化的表征，浸渍实验，长期蠕变预估等最佳的材料表征方案。 |
| 傅里叶变换红外光谱仪（FT-IR） | Thermo Fisher 型号：Nicolet6700 | 波数范围：7800-350cm-1 分辨率：≤0.09cm-1, | 化合物定性分析，高分子链结构分析，混合物成分分析，分子间相互作用 |
| 紫外可见分光光度计(UV-vis) | Thermo | 光谱带宽: 1 nm，2nm 光源: 氙灯 波长范围: 190 –1100 nm；波长精度: ± 0.8 nm (全波长) ；波长重复性: < 0.1 nm 扫描速度: <1 to 6,000 nm/min; 回转速度: 31,000 nm/min 吸光度范围: > 3.5 Abs 吸光度精度: 0.5 A: ± 0.004A;1A: ± 0.006A; 2A: ± 0.010A; | 结构分析、物质鉴定、吸光度测定 |
| 扫描电镜（SEM） | 美国 FEI 型号：QUANTA 200 FEG | 高真空模式分辨率：3.0nm 低真空模式分辨率：4.0nm 放大倍数：*5 ~ *300，000 加速电压：0.5kv ~ 30kv 低真空度：1 ~ 270Pa 高、低真空切换：图形菜单设定 样品台：大尺寸、超级对中样品台（可装直径150mm样品）， 三轴马达驱动：X:800mm Y:40mm T:-10 ~ +90度 R：360度 Z:5 ~ 48mm | SEM-研究结晶高分子的形态结构；研究高分子多相复合体系的形态结构； 研究纤维和织物的表面形态结构；研究物质的表面形态结构 |
| 能量色散-X射线能谱仪 | 美国EDAX公司GENESIS 2000 | 有效探测器面积：10m㎡ 能量分辨率：优于等于132cV | 元素分析范围：能够探测到低至铍Be4(包括铍）的所有元素 |
| 透射电子显微镜(TEM) | 日本电子株式会社型号：JEM—2100， | 最小束斑尺寸：0.5nm 点分辨率：0.19nm 线分辨率：0.14nm 加速电压：80、100、120、160、200kv | 分析金属样品的金属缺陷、晶界、相界等微结构、分析高分子材料的形态及结构、微粒形状观察及其尺寸分析 |
| X-射线衍射仪（XRD） | 美国FEI | 测量精度：角度重现性±0.0001°； 最小步长0.0001°； 角度范围（2θ）：-110～168°； 最大扫描速度或最高定位速度：1500°/分； 温度范围：室温～900℃； 环境压力：1mbar-10bar； | 结晶或半结晶物质的定性定量分析 |
| 电感耦合等离子体质谱（ICP-MS） | Thermo Scientific 型号：XSeries II | 微量（ppb级别）金属元素定量分析 | |
| 马尔文激光粒度仪 | 型号：Mastersizer 3000 | 测定粒径（0.01~3500um）及分布 | |
| 热机械分析仪（TMA) | 日本 型号：TMA8310 | 用于测量固体（包括园片、薄膜、粒状、纤维）液体和凝胶在力作用下的形变性能常用的负荷方式有压缩、针入、拉伸、弯曲等 |
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